一、Loresta-GX 低阻抗率計測試儀 MCP-T700 設(shè)備性能與特點

1. 測量原理：基于直流四探針法，可直接測量樣品的電阻率與方阻，無需復(fù)雜的樣品前處理。設(shè)備支持自動電流換向，有效降低熱電勢對低阻測量結(jié)果的影響，提升數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。

2. 探頭兼容性：可搭配 ASP、LSP、ESP 等多種探頭，適配不同形態(tài)的樣品，包括 ITO 導(dǎo)電膜、碳漿、導(dǎo)電塑料、金屬鍍層、半導(dǎo)體晶圓等。

3. 操作與數(shù)據(jù)管理：配備數(shù)字顯示屏，可直接讀取測量結(jié)果。支持 USB 數(shù)據(jù)輸出，可連接電腦或 U 盤導(dǎo)出數(shù)據(jù)，便于實驗記錄與追溯。

二、核心技術(shù)參數(shù)

• 測量范圍：電阻率 10?? ~ 10? Ω?cm；方阻 10?3 ~ 10? Ω/□

• 測量方式：直流四端子法

• 探頭接口：支持多種專用探頭擴展

• 電源：AC 100~240V，50/60 Hz

• 機身尺寸：約 320×285×110 mm，重量約 2.4 kg

三、典型應(yīng)用場景

• 電子材料：ITO、銀漿等導(dǎo)電薄膜的方阻均勻性檢測。

• 新能源行業(yè)：鋰電池集流體、導(dǎo)電涂層的電阻率測試。

• 化工與材料：抗靜電塑料、電磁屏蔽材料的性能評估。

• 半導(dǎo)體行業(yè)：硅片、鍺片等晶圓的電阻率快速篩選。

四、Loresta-GX 低阻抗率計測試儀 MCP-T700 使用與維護說明

1. 樣品準(zhǔn)備：測量前需確保樣品表面清潔，無油污或氧化層，避免影響接觸效果。

2. 探頭使用：根據(jù)樣品類型選擇合適探頭，輕壓在樣品表面即可完成測量，避免用力按壓損傷探頭或樣品。

3. 日常維護：定期清潔探頭表面，保持探針的潔凈；按設(shè)備手冊要求定期進行校準(zhǔn)，確保測量精度。

4. 注意事項：設(shè)備應(yīng)放置在干燥、無強電磁干擾的環(huán)境中使用，避免在高溫高濕條件下長時間運行。